臺(tái)式能量色散型X射線熒光光譜儀ElvaX-II
采用高電壓、高電流配置
可以檢測(cè)稀土元素
滿足多種應(yīng)用
部分應(yīng)用：
合金
ROHS
土壤
礦物
文物
鍍層

臺(tái)式X射線熒光光譜儀將新的激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)于智能設(shè)計(jì)相結(jié)合，其分析更能更接近于功率更高的落地式光譜儀。多重優(yōu)化的 X 射線輸出和探測(cè)系統(tǒng)確保您擁有杰出的系統(tǒng)性能。

EDX能量色散X熒光分析儀參數(shù) 1、 性能參數(shù)及技術(shù)指標(biāo) 分析元素范圍：S-U； 元素含量分析范圍：0.0001%-99.99%（采用1024道多道分析器）； 采用美國(guó)航天技術(shù)的Si (PIN) 半導(dǎo)體探測(cè)器計(jì)數(shù)，能量分辨率160eV； 測(cè)量范圍：2－30KeV； 測(cè)量下限：Cd:15ppm;Pb、Hg:10ppm;Br:10ppm;Cr:30ppm;(以塑膠標(biāo)樣為例）； 

穩(wěn)定性：< 0.01%； 高壓：5kV-40kV（激發(fā)源40KV-鎢靶微型X射線管）； 管流：10μA-100μA； 整機(jī)能量分辨率：180-190eV； 檢測(cè)時(shí)間：120S～240S； 額定功率：50W； 儀器重量：25Kg；

EDX能量色散X熒光分析儀優(yōu)勢(shì) 一體化設(shè)計(jì)，性能穩(wěn)定，運(yùn)行可靠，性價(jià)比高；全中文應(yīng)用軟件，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量時(shí)間短；同時(shí)配備PC機(jī)，分析儀通過(guò)無(wú)線藍(lán)牙技術(shù)可單獨(dú)和PC 進(jìn)行通信測(cè)試，方便使用； 適用于電子產(chǎn)品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）檢測(cè)；