QUANTAX EBSD能譜儀
QUANTAX EBSD分析系統(tǒng)面向不通水平的用戶，具有簡(jiǎn)潔易用和多功能的特點(diǎn)。無(wú)論是單機(jī)分析還是與EDS一體化集成，CrystAlign均能為各種不同晶體材料的研究提供更大的通用性和靈活性。其中，高性能e-Flash系列EBSD探頭是該系統(tǒng)極為重要的組成部分。
Bruker非常注重e–Flash系列探測(cè)器的設(shè)計(jì)，結(jié)合自身在電子顯微鏡設(shè)備領(lǐng)域數(shù)十年的開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)和對(duì)用戶需求的深入了解，e–Flash系列探測(cè)器具有非常出色的可用性和安全特性，并支持從高速到高分辨、高靈敏度的EBSD應(yīng)用。
e–Flash1000— 專注于高速EBSD分析
e–Flash1000是迄今市場(chǎng)上速度zui快的EBSD探測(cè)器。8x8面元模式下，該探測(cè)器提供的850patterns/s的采集速度；4x4面元模式下，采集速度可達(dá)630patterns/s。與其他EBSD系統(tǒng)相比較，該速度是當(dāng)前行業(yè)內(nèi)zui快的速度（8x8面元）。
該EBSD探測(cè)器深刻表明：速度、準(zhǔn)確度和精確度可兼得，即使在zui高采集速度下也能保證準(zhǔn)確的相辨別。取向識(shí)別的精確度也是e–Flash1000的標(biāo)準(zhǔn)特征。右側(cè)的取向差圖描繪圖可很好的印證。
在原生分辨率（640x480像素）條件下，e–Flash1000采集速度可達(dá)210patterns/s。
e–FlashHR —專注于高分辨分析
高分辨EBSD探測(cè)器是高速EBSD探測(cè)器的有效市場(chǎng)補(bǔ)充。Bruker的e–FlashHR高分辨EBSD探測(cè)器具有1600x1200像素的原生分辨率，其提供具有驚人細(xì)節(jié)的花樣圖像。
e–FlashHR高分辨EBSD探測(cè)器具有花樣分辨率和超高信號(hào)靈敏度，能勝任材料分析中復(fù)雜而艱難的分析任務(wù)，例如：
?低束流工作
?低kV工作
?導(dǎo)電性差的樣品
?納米材料
?偽對(duì)稱性的分析
?晶格應(yīng)變研究
保證原生分辨率1600x1200像素條件下，探測(cè)器的分析速度高達(dá)35patterns/s。zui大面元（20x20）條件下，e–FlashHR的分析速度可達(dá)170patterns/s。這使它成為當(dāng)前行業(yè)內(nèi)zui快的高分辨率EBSD探測(cè)器。
豎直屏幕方位的原位調(diào)節(jié)
該功能是e–Flash探測(cè)器*的特征。在電鏡真空環(huán)境下，當(dāng)探測(cè)器處于工作位置時(shí)，豎直屏幕方位具有靈活的角度調(diào)節(jié)能力。在采集設(shè)置過(guò)程中，它對(duì)信號(hào)的優(yōu)化和調(diào)整工作距離非常有幫助，能給予用戶*的靈活性和舒適度。
*的安全特性
e–Flash探測(cè)器具有密封的機(jī)殼，所有的移動(dòng)部件內(nèi)置，切實(shí)避免由移動(dòng)部件引起的不必要的損害。探測(cè)器安裝僅需三根導(dǎo)線，兩根以太網(wǎng)（RJ45）雙絞線分別用于信號(hào)傳輸和探測(cè)器控制，第三條導(dǎo)線用于供電。導(dǎo)線固定安裝，避免導(dǎo)線之間的纏繞和外部損傷。
EBSD外殼頂部標(biāo)配藍(lán)色LED指示器，無(wú)論探測(cè)器是否關(guān)閉，實(shí)時(shí)顯示磷屏位置。該設(shè)計(jì)可有效避免磷屏與SEM樣品腔中的部件發(fā)生碰撞而導(dǎo)致磷屏損壞的風(fēng)險(xiǎn)。一旦發(fā)生碰撞，快速回縮機(jī)制會(huì)立刻觸發(fā)，將EBSD探測(cè)器以10mm/s的速度移出樣品腔。磷屏更換非常簡(jiǎn)便，如屏幕被劃傷或損壞，用戶也可以輕松的自行更換。
靈活性—適合任何分析環(huán)境和任務(wù)
e–Flash探測(cè)器具有非常大的伸入長(zhǎng)度，對(duì)于當(dāng)前zui大樣品腔的電鏡，也適合安裝。快速的探測(cè)器移動(dòng)速度和定位的精準(zhǔn)性，對(duì)于3D EBSD等的高重復(fù)性任務(wù)非常實(shí)用。
