XTOM——三維光學面掃描系統(tǒng)

XTOM三維面掃描系統(tǒng)基于雙目立體視覺原理，采用的外差式多頻相移三維光學測量技術(shù)，測量精度、測量速度等性能都達到水平，與傳統(tǒng)的格雷碼加相移方法相比，測量精度高，抗*力強、受被測工件表面明暗影響小，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。廣泛適用于各種需求三維數(shù)據(jù)的行業(yè)，如汽車工業(yè)、飛機工業(yè)、摩托車外殼及內(nèi)飾、家電、雕塑等。

應用范圍

• 逆向設(shè)計：快速獲取零部件的表面點云數(shù)據(jù)，建立三維數(shù)模，從而達到產(chǎn)品快速設(shè)計的目的。

• 產(chǎn)品檢測：生產(chǎn)線產(chǎn)品質(zhì)量控制和形位尺寸檢測，特別適合復雜曲面的檢測，可以檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等產(chǎn)品。

• 其他應用：文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、整容及上頜面手術(shù)。  

功能特色

• 掃描預覽，實時跟蹤標志點

• 針對不同幅面的標定板，靈活的相機標定

• 掃描結(jié)果三維顯示，靈活的三維顯示控制

• 坐標轉(zhuǎn)換功能

• 具備光學探針功能

• 321坐標轉(zhuǎn)換功能

• 具備點距測量功能

• 具備多種后處理功能，包括點云精確匹配、重疊面自動融合等

• 具備多種元素擬合功能：點、線、面、球、圓柱、圓錐等

• 具備多種偏差分析功能：點偏差、距離偏差、角度偏差等

TOPSCAN-TC

單目型

TOPSCAN-MIC

教育型

TOPSCAN-EDU

教育四目

TOPSCAN-ET

工業(yè)型

相機像素

128×96mm

400×300mm

32×24mm

64×48mm

128×96mm

128×96mm

400×300mm

128×96mm

400×300mm

800×600mm

XTOM——三維光學面掃描系統(tǒng)

XTOM三維面掃描系統(tǒng)基于雙目立體視覺原理，采用的外差式多頻相移三維光學測量技術(shù)，測量精度、測量速度等性能都達到水平，與傳統(tǒng)的格雷碼加相移方法相比，測量精度高，抗*力強、受被測工件表面明暗影響小，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。廣泛適用于各種需求三維數(shù)據(jù)的行業(yè)，如汽車工業(yè)、飛機工業(yè)、摩托車外殼及內(nèi)飾、家電、雕塑等。

應用范圍

• 逆向設(shè)計：快速獲取零部件的表面點云數(shù)據(jù)，建立三維數(shù)模，從而達到產(chǎn)品快速設(shè)計的目的。

• 產(chǎn)品檢測：生產(chǎn)線產(chǎn)品質(zhì)量控制和形位尺寸檢測，特別適合復雜曲面的檢測，可以檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等產(chǎn)品。

• 其他應用：文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、整容及上頜面手術(shù)。  

功能特色

• 掃描預覽，實時跟蹤標志點

• 針對不同幅面的標定板，靈活的相機標定

• 掃描結(jié)果三維顯示，靈活的三維顯示控制

• 坐標轉(zhuǎn)換功能

• 具備光學探針功能

• 321坐標轉(zhuǎn)換功能

• 具備點距測量功能

• 具備多種后處理功能，包括點云精確匹配、重疊面自動融合等

• 具備多種元素擬合功能：點、線、面、球、圓柱、圓錐等

• 具備多種偏差分析功能：點偏差、距離偏差、角度偏差等

TOPSCAN-TC

單目型

TOPSCAN-MIC

教育型

TOPSCAN-EDU

教育四目

TOPSCAN-ET

工業(yè)型

相機像素