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簡介：FT160XRF鍍層分析儀準確、可靠地測量最小部件上的鍍層，有助于您在PCB、半導體晶片和微連接器上維持一致且準確的鍍層。
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AT3100涂層測厚儀
面議0簡介：
上海奧龍星迪檢測設備有限公司 產地：上海我要詢價 -
AT3200涂層測厚儀
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上海奧龍星迪檢測設備有限公司 產地：上海我要詢價 -
DT3100涂層測厚儀
面議0簡介：
上海奧龍星迪檢測設備有限公司 產地：上海我要詢價 -
德國麥考特EPKMIKROTEST 覆層測厚儀
面議0簡介：詳細信息用于測量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度(如漆、粉末涂層、塑料、鋅、銅、錫及鎳)
長沙華銀試驗儀器有限公司 產地：我要詢價 -
德國QuaNix 4200/4500涂層測厚儀
面議0簡介：
長沙華銀試驗儀器有限公司 產地：我要詢價 -
TIME2500磁性覆層測厚儀-原TT220
面議0簡介：詳細信息產品技術指標測頭類型:F測量原理:磁感應測量范圍:0-1250μm
長沙華銀試驗儀器有限公司 產地：我要詢價 -
TIME2510 涂層測厚儀-原TT210
面議0簡介：詳細信息產品技術指標測頭類型：F測量原理：磁感應測量范圍：0-1250μm低限分辨力：0.1μm零點校準：±（3%+1）μm，H指被測物體的實際厚度
長沙華銀試驗儀器有限公司 產地：我要詢價 -
TT290涂層測厚儀
面議0簡介：詳細信息產品技術指標測頭類型:F測量原理:磁感應測量范圍:0-1250μm低限顯示分辨力:0.1μm(100μm以下為0.1μm)示值誤差:零點校準(um):±［3%H+1］兩點校準(um):±［...
長沙華銀試驗儀器有限公司 產地：我要詢價 -
TIME2501覆層測厚儀-原TT230
面議0簡介：詳細信息產品技術指標測頭類型:N測量原理:電渦流測量范圍:0-1250μm/0-4μm（銅上渡鉻）低限顯示分辨力:0.1μm(10μm以下為0.1μm)探頭連接方式:一體化示值誤差:零點校準(um...
長沙華銀試驗儀器有限公司 產地：我要詢價 -
MCT200涂層測厚儀
面議0簡介：產品簡介：
深圳市恒信杰科技有限公司 產地：我要詢價