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簡介：超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8600系列隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過程的時(shí)代

簡介：Apreo2SEMThermoScientificApreo2SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載的實(shí)時(shí)元素成像功能和的自動光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身

簡介：掃描電子顯微鏡SU3800/SU3900集優(yōu)異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性，結(jié)合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能

簡介：Helios5PFIBDualBeam用于TEM樣品制備（包括3D表征、橫截面成像和微加工）的等離子體聚焦離子束掃描電子顯微鏡

簡介：【產(chǎn)品概述】原位掃描電鏡（SEM）基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化，拓展了掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。

簡介：【產(chǎn)品概述】ZEM15桌面電鏡速度快,信號采集帶寬10M,可以在視頻模式下流暢實(shí)時(shí)的顯示樣品.只需鼠標(biāo)就可完成所有操作,不需對中光闌等復(fù)雜步驟,聚焦消像散后可直接拍圖.

簡介：【產(chǎn)品概述】ZEM18臺式掃描電鏡信號采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無重影、拖影，不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系...

簡介：日立熱場發(fā)射掃描電鏡SU7000：此次推出的SU7000采用全新設(shè)計(jì)的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)獲得的信號來調(diào)整樣品與透鏡之間的距離（工作...

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