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目錄:陜西普洛帝測控技術(shù)有限公司>>表面顆粒計(jì)數(shù)器>> P-III表面塵埃粒子計(jì)數(shù)器

表面塵埃粒子計(jì)數(shù)器
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參考價(jià) 750000
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
750000
≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) P-III
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 產(chǎn)品資料 查看pdf文檔
  • 所在地 西安市
屬性

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更新時(shí)間:2025-04-21 09:53:30瀏覽次數(shù):77評價(jià)

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表面塵埃粒子計(jì)數(shù)器P-III采用第七代雙激光窄光檢測器,壽命>200000次,通過物理或氣流方式將附著在表面的顆粒重新懸浮,基于激光光學(xué)傳感器和光散射原理,實(shí)時(shí)捕獲懸浮粒子的散射光信號(hào),實(shí)現(xiàn)單個(gè)粒子尺寸的精確分析。通過量化表面污染數(shù)據(jù),為半導(dǎo)體制造中的過程控制提供標(biāo)準(zhǔn)化依據(jù),從而優(yōu)化生產(chǎn)良率和產(chǎn)品可靠性。

產(chǎn)品參數(shù)

測量粒徑

A 0.3um、2.5um、10um;                                                  B 0.3um、(0.5/1.0/2.5/5.0)um、10um;

C0.3um、0.5um、1.0um、2.5um、5.0m、10um;             D 0.5um、1.0um、1.5um、2.0um、2.5um、3.0um;

E0,5um、1.0um、3.0um、5.0um、10.0um、25.0um;      F 0.1μm,0.2μm,0.3μm,0.5μm,1.0μm,5.0μm;


表面塵埃粒子計(jì)數(shù)器

1、粒徑分布誤差:≤±30%

2、濃度示值誤差:≤±30%

3、重復(fù)相對偏差:≤±10%FS

4、重疊誤差:≤5%

5、氣體檢測:可測氣體濃度(可選配)

6、溫度范圍:-40 ~ 120℃

7、檢定標(biāo)準(zhǔn):ISO14644-1或 JJF1190

8、氣泵流速:2.83L/min,28.3L/min(可選);

9、采樣時(shí)間:3、6、9、12、15、30、60秒(可選);

10、檢測模式:數(shù)量模式;質(zhì)量模式; 凈效模式;

11、檢測方式:定時(shí)檢測、循環(huán)檢測可設(shè)置     

12、報(bào)警方式:自定義數(shù)量報(bào)警值、質(zhì)量報(bào)警值

13、限值報(bào)警:RS485信號(hào)報(bào)警或外接聲光報(bào)警器

14、法 規(guī) 性:權(quán)限管控、審計(jì)追蹤、電子記錄等

15、合 規(guī) 性:符合ISO 21501-4,JIS B9921

16、通訊接口:RS232、R485、LAN-USB

17、存儲(chǔ)模式:實(shí)時(shí)、定時(shí)存儲(chǔ)可設(shè)置;無限制

18、打印模式:可選配微型打印機(jī)打印數(shù)據(jù)

19、工作條件:5 ~ 45℃、≤90%RH,無冷凝

20、多種探針可供選擇

表面塵埃粒子計(jì)數(shù)器

產(chǎn)品特點(diǎn)

智能化設(shè)計(jì)與操作體驗(yàn)

7英寸高分辨率觸控屏:支持實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)可視化與交互操作,簡化流程。

雙電池?zé)岵灏蜗到y(tǒng)?:支持連續(xù)生產(chǎn)場景下的不間斷作業(yè),電池更換無需停機(jī)。

USB數(shù)據(jù)接口與軟件升級(jí)?:便捷導(dǎo)出檢測報(bào)告,并可通過固件更新持續(xù)優(yōu)化性能。

提升制造效率

減少50%自凈時(shí)間?:通過量化表面污染數(shù)據(jù),縮短設(shè)備維護(hù)周期(PM周期),提升產(chǎn)線吞吐量。

延長MTBC:結(jié)合顆??刂撇呗裕P(guān)鍵設(shè)備可靠性提升4倍以上。

覆蓋高潔凈場景

半導(dǎo)體制造:晶圓表面、機(jī)臺(tái)內(nèi)腔等關(guān)鍵區(qū)域的潔凈度驗(yàn)證。

精密光學(xué)與電子:液晶面板、光學(xué)鏡片組件、醫(yī)療器械的表面污染控制。

符合國際標(biāo)準(zhǔn)

產(chǎn)品嚴(yán)格遵循ISO-14644-9表面粒子控制規(guī)范,為全球半導(dǎo)體廠商提供標(biāo)準(zhǔn)化檢測工具。

表面塵埃粒子計(jì)數(shù)器


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