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首頁>>廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司>>產(chǎn)品展示>>白光干涉薄膜厚度儀

  • 白光干涉薄膜厚度測量儀Delta 參考價:面議

    白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:廣州市 對比
    白光干涉儀薄膜厚儀測厚儀光學(xué)薄膜厚儀光學(xué)膜厚儀
    2021/1/21 13:16:051687
  • 白光干涉測厚儀 參考價:面議

    TF200白光干涉測厚儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反...
    型號: TF200-XNI... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:廣州市 對比
    光學(xué)膜厚儀白光干涉儀白光干涉膜厚儀白光干涉測厚儀
    2020/11/9 10:54:561481

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