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首頁>>北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體封裝材料測(cè)試系統(tǒng)>>半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

  • 半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):180000

    半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)高低溫環(huán)境下的絕緣電阻測(cè)試技術(shù)用于預(yù)測(cè)EMC的HTRB性能。電介質(zhì)樣品暴露在高電場(chǎng)強(qiáng)度和高溫環(huán)境下。在這種情況下,高分子聚合...
    型號(hào): SIR-450 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:北京市 對(duì)比
    高低溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)絕緣電阻測(cè)試半導(dǎo)體材料
    2025/2/4 17:50:1667

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