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目錄:阿美特克商貿(mào)(上海)有限公司>>材料阻抗測試儀器>> ModuLab XM MTS 材料電特性測試系統(tǒng)

ModuLab XM MTS 材料電特性測試系統(tǒng)
  • ModuLab XM MTS 材料電特性測試系統(tǒng)
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ModuLab XM MTS 材料電特性測試系統(tǒng)具有時域技術包括I-V,恒定DC,脈沖電位以及電位掃描。 AC技術包括阻抗,電容,介電常數(shù),電氣模型,C-V以及Mott-Schottky。 可選模塊擴展了測試范圍—高電壓、樣品/參比、功率放大器和低電流測試。 高/低溫系統(tǒng)及樣品架配件包括低溫系統(tǒng)、高溫爐等等

ModuLab XM MTS 材料電特性測試系統(tǒng)

ModuLab  XM MTS(材料電特性測試系統(tǒng))是模塊化的,*整合的研究系統(tǒng),可用來測試從絕緣體到超導體的大部分材料的電學性質。

系統(tǒng)提供:

  • 時域技術包括I-V,恒定DC,脈沖電位以及電位掃描。
  • AC技術包括阻抗,電容,介電常數(shù),電氣模型,C-V以及Mott-Schottky。
  • 可選模塊擴展了測試范圍—高電壓、樣品/參比、功率放大器和低電流測試。
  • 高/低溫系統(tǒng)及樣品架配件包括低溫系統(tǒng)、高溫爐等等

很多測試系統(tǒng)都可以測試材料的電學性質。典型的系統(tǒng)分析可以分為兩類:要么提供時域技術,如恒定電流,通過脈沖電壓和掃描電壓(I-V)確定材料的電學性能;要么提供AC技術如阻抗、電容、C-V或者Mott-Schottky來提供更多細節(jié)信息進一步分析材料的導電機理。許多情況下,根據(jù)被測材料的類型,通常需要多個供應商提供多種設備,包括放大器、功率放大器、控溫測試設備(低溫系統(tǒng)或高溫爐),敏感的電流放大器等。

ModuLab XM MTS將上述所有的功能整合于一個模塊系統(tǒng)中,從而提供了*的方法進行材料測試。核心MAT模塊提供了高速時域測試功能,系統(tǒng)中還可以加入可選模塊,例如加入頻響分析模塊提供阻抗/C-V測試能力,加入模擬放大器提供高電位/低電流測試,加入控溫附件則可以實現(xiàn)溫度的控制。這種模塊化方法對于用戶有如下優(yōu)點:

  • 啟動成本低-您可以先購買MAT核心組件以及主機箱,當資金允許時再購買可選附件。
  • 節(jié)約成本-為本系統(tǒng)購買的模塊以及附件適用于所有的測試技術。電流以及高電位放大器服務于時域測試和AC測試,所有測試均可實現(xiàn)溫度控制。
  • 易于操作-同樣的系統(tǒng)軟件用在所有測試中,減少了學習時間,增加了熟悉度。
  • 系統(tǒng)維修-當系統(tǒng)的某一模塊無法正常工作時,系統(tǒng)的其他組件不會受到影響,當該模塊取出維修時,其他組件能繼續(xù)正常工作。

系統(tǒng)有兩種尺寸配置,滿足不同預算,可以配合您的研究,為您量身定做,適應和拓展您的研究深度和廣度。

 

Modulab XM MTS軟件是全面、靈活、易于操作。該系統(tǒng)有多種測試類型可供選擇,從標準開路電壓、I-V、C-V和Mott Schottky測試到復雜的多步序列測試,包括樣品制備、先進的實驗技術以及綜合阻抗分析。

  • 在實驗進行的所有階段都用到了圖表,以便用戶精確理解自己的樣品需要進行什么樣的測試。一旦軟件中輸入?yún)?shù),軟件中的波形圖將給出樣品運行時,該實驗所需要的實際時間及實驗的設置值。
  • 軟件還給出了接線圖,以方便用戶檢查樣品是否正確連接,并在開始測試之前給出調整。
  • 軟件提供了多種數(shù)據(jù)采集模式可供用戶自由選擇而不受所選實驗類型的限制。例如當運行電壓脈沖實驗時,就會選擇高數(shù)據(jù)采樣率,以便分析脈沖(電壓和電流)的實際形狀,以選擇*測試點。
  • 為了使用戶能夠分別實現(xiàn)序列AC、DC、溫度和阻抗測試,軟件提供大量的循環(huán)測試設定方法,方便使用。
  • 導航式樹狀結構
    可供瀏覽的導航式樹狀結構讓使用者可設定及顯示設定模板、試驗、參數(shù)、圖形與報告。針對特定的一個樣品或一組樣品,多個項目可以成組,成為序列實驗并歸檔。
  • 集成DC/阻抗
    實驗可能包含單一或多個步驟順序。DC時域及AC阻抗步驟*整合在一起,能進行如恒定電壓I-V、C-V、Mott-Schottky和電壓脈沖的序列實驗。軟件甚至允許在AC模式下操作單波掃描、諧波分析及多波FFT功能,同時完成。
  • 數(shù)據(jù)分析
    數(shù)據(jù)模擬之例行程序*整合到ModuLab軟件中,包括線、圓、等效電路模擬。等效電路模型,可使用一系列的元件包括:電阻、電容、電感、分布參數(shù)元件,常相位元件,擴散元件。有些廣泛使用的模型在軟件中己預先設定,其它模型則可用圖表等效電路模型編輯器很輕松地建立,這可建立在許多材料應用中非常復雜的阻抗模型。
  • 數(shù)據(jù)報告模板
    內(nèi)置數(shù)據(jù)報告模板格式將采取實驗結果、并與圖表、曲線圖及分析結果一起輸出到文字處理器。構建報告簡單易行。

ModuLab XM MTS 材料電特性測試系統(tǒng) 

MAT核心模塊

模塊

核心MAT模塊使用新的數(shù)字信號處理器(DSP),能精準地進行控制和測量。

● 使用高采樣速率(64 MS/s)與插值濾波功能之平滑的波形,能在所有平滑的模擬技術之下,傳送精度、穩(wěn)定度及控制數(shù)字波形技術。 
● 應用于脈沖與快速I-V技術之高速數(shù)采達1MS/S 
● 高帶寬可以用于高速I-V、脈沖和阻抗(需MFRA選項)的精確、可靠測量; 
● 浮地電極,用于在接地的電池、壓力容器、導管與貯存箱的測量。 
● 靈活的實驗順序安排,容許在實驗中有需要的特定點上以高速率采集資料,如:分析脈沖或高速CV。 
● 在各種實驗技術之間瞬時切換的能力,提高了操作及測量的靈活性,例如C-V,Z-V,脈沖,阻抗測量等。

MAT 1MHz
MFRA頻率響應模塊
阻抗、導納、電模數(shù)、C-V、Mott-Schottky、介電常數(shù)分析,整個頻率范圍(10 μHz to 1 MHz)內(nèi)采用多種測量技術,MTS均可完成。

 

 

 

 

● 單一正弦相關:提供*的精度與可重復性。成千上萬的研究文章都是使用Solartron的阻抗測試技術完成。 MFRA結合*品質的模擬硬件設計及新一代的高速數(shù)字信號處理器(DSP)技術,提供更高的測量速度與精度(從1MHz至10Hz,每10倍頻間隔采樣,取樣10點,僅需5秒),將阻抗測量性能帶領到更高的境界。

● 多正弦/快速傅立葉轉換(FFT)分析:同時觸發(fā)與測量可由使用者選擇的多重頻率,提供甚至更快速的測量性能。這對于快速低頻分析及隨時間變化或不穩(wěn)定體系之測量特別有用。

多正弦/快速傅立葉轉換(FFT)測量是如此快速,因此可經(jīng)常在樣品體系改變響應之前完成。

● 諧波分析:采用FFT分析技術及單一或多重頻率觸發(fā),以便研究線性與失真。

● C-V 和Mott-Schottky 測量:在整個頻率范圍使用上,用單波或多波測量技術實現(xiàn)。

MFRA 1MHz (10μH z~1MHz)
MHV100V高電壓選項
標準的MAT核心模塊能提供高達±8V的掃描電壓值,對于很多應用,高電壓也是必須的,如在高阻抗絕緣材料情況下。 MAT和MHV選項可以提供±100 V 范圍內(nèi)超平滑的掃描電壓、I-V、DC、脈沖測試。自動衰減樣品電壓以滿足MAT核心模塊測量的要求。 MHV能同樣提供峰值為100V的AC峰形,用于樣品阻抗測試,DC及AC信號可以結合用于高壓的C-V、Mott-Schottky、電容及阻抗測試。MHV 100 (100V)
MREF 樣品/參比選項
MREF可以提高電介質樣品的AC阻抗的測量精度。電容標樣可以測量系統(tǒng)誤差。 MREF樣品/參比選項通過先測量樣品,再測量一個已知標定過的與參比有相似阻抗值的電容,使用驗證過的電纜來提高電介質材料AC測量的準確度。 參比電容的測量提供準確測量值,消除在樣品測量中由于連接電纜,測量回路所帶來的系統(tǒng)誤差,多個標定的內(nèi)部參比電容可供選擇用于匹配各類樣品阻抗,如需要,用戶可以采用外部參考模式,使用外部參比電容。MREF
MFA小電流選項(Femto安培計)

標準MAT核心模塊能夠達到1pA電流分辨率,這個分辨率對于許多材料測試已足夠。但對于高阻抗材料,如絕緣體、介電材料、陶瓷、納米材料(碳納米管)、半導體材料等,可能需要更為靈敏的電流測量精度。 fA電流測量選項MFA是設計用于解決極小電流(150aA)分析。也可結合與MHV高壓選項使用,以測量*阻抗材料(>100TΩ );也可以與MREF結合提高材料測試精度和重現(xiàn)性。

MFA
MBST-2A 電流放大器選項
MAT核心模塊提供的標準電流范圍是±100 mA. 對于超導體或半導體測試,如需要更大的電流可通過選購2A內(nèi)置電流放大器。 MBST選項提供高達±2A的電流輸出,這使得測量樣品上的壓降更為簡便,提供阻抗分辨率達10μΩ。MBST-2A
主機插槽選項
根據(jù)不同的模塊個數(shù),按照預算選擇合適的主機箱。Chas 08 
Chas 04
附件及樣品支架

5K-600K低溫系統(tǒng)(含樣品支架及溫度控制器)
采用液氮或液氦來測試固體、液體或粉末材料,提供溫度范圍非常寬廣,從5K到600K以上。為了避免樣品發(fā)生破裂或膨脹,樣品與制冷劑蒸汽不直接接觸,而是將樣品定位于一個獨立的空間,通過熱交換氣體(通常是干燥的氦氣)熱交換來實現(xiàn)加熱或者是冷卻。

 

129610A

室溫固體樣品支架,設計用于中溫范圍,測試固體材料。樣品架可以采用2端或4端模式來測試高阻抗或低阻抗樣品。

 

12962A

電極連接附件(10,30,40mm直徑)與12962A配套使用

12963A

液體樣品支架

12964A

高溫爐

用于離子導體,固體氧化物和固體電解質

 

 

高壓放大器

為滿足10KV電壓測試,外接放大器,配合內(nèi)部100V電壓測量,實現(xiàn)對外部樣品高壓測量。

 

 

探針臺

可與非低溫及低溫探針臺聯(lián)用,實現(xiàn)5K-475K的測量

 

 
軟件

系統(tǒng)標準配置軟件
Modulab MTS軟件是全面、靈活、易于操作。該系統(tǒng)有多種測試類型可供選擇,從標準開路電壓、I-V、C-V和Mott Schottky測試到復雜的多步序列測試,包括樣品制備、先進的實驗技術以及綜合阻抗分析。

Modulab MTS 軟件

應用

ModuLab XM MTS系統(tǒng)設計的目的是檢驗由絕緣體至超導體的幾乎任何類型的材料,包括:

  • 納米材料
  • 半導體
  • 光伏
  • 陶瓷
  • 聚合物
  • 顯示材料
  • 鐵電/壓電材料
  • 介電材料
  • 生物材料
  • 超導體

該材料可以是固體,液體或粉末,可使用加熱到>1600℃高溫爐或冷卻到接近零度的低溫系統(tǒng)。使用時間域,阻抗和溫度測試大多數(shù)材料均可獲得性能表征。 

 

陶瓷

陶瓷經(jīng)常用于高溫及絕緣領域,特別是航天渦輪扇葉、宇宙飛船的材料片、引擎噴嘴、傳感器、盤狀剎車等。MTS系統(tǒng)的高電壓、高溫和低電流模塊完美的提供了陶瓷材料的測試環(huán)境。
MTS多種選項:• MHV100V高電壓 • 外部超高電壓放大器(10kV) • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFAfA選項 • 高溫爐

聚合物

MTS系統(tǒng)可用于測量聚合物的電性能,如電纜絕緣材料、顯示屏基質材料、半導體低K介電材料、導電聚合物、塑料涂層等。 阻抗測試廣泛應用于聚合物介電特性的測試。
MTS多種選項:• MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA fA選項 • MFRA交流性能測試 • 低溫系統(tǒng)用于玻璃化試驗

納米材料

新型納米材料參雜于現(xiàn)有的陶瓷、聚合物等材料中,制造出具有優(yōu)異的機械、電氣及熱特性的復合材料。MTS系統(tǒng)的多功能性及模塊性結構是測試這些新型材料電性能的之選。
MTS多種選項:• MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA     fA選項 • 低溫系統(tǒng) • MFRA交流性能測試

太陽能電池

太陽能電池以其來源于太陽的*以及廉價的特點成為傳統(tǒng)燃料的替代。MTS系統(tǒng)集成I-V特性(評估功率/轉換效率)及阻抗/C-V特性(確定載流子密度和遷移率)測量為一體,簡化了測試程序,降低了投入成本。
MTS多種選項:• 時域和交流測試 • MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA     fA選項 • MBST 2A大電流選項 • MFRA交流性能測試

超導體

超導體是指在一個臨界溫度以下具有零電阻的材料,它們廣泛用于電磁體、如MRI、NMI與質譜儀;MTS系統(tǒng)的超低阻抗測試特點和精確的溫控附件是測量超導材料的必選。 既能精確控制溫度,又能測量超低阻抗,是對這類材料測試的要求。
MTS多種選項:• MBST 2A大電流選項用于     低阻抗測試 • 低溫系統(tǒng) • MFRA交流性能測試

顯示材料

新型顯示技術,如OLED及AMOLED,為手提電腦、手機及薄屏電視提供了更大的發(fā)展?jié)摿?。MTS系統(tǒng)為該類產(chǎn)品提供了多種測試方法,如脈沖(顯示保持/Flicker測試)、I-V.C-V及阻抗測試。
MTS多種選項:• MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA    fA選項 • MFRA交流性能測試

半導體

半導體材料的電阻率因隨周圍的電場變化而變化,被廣泛應用于PC、整流器、太陽能電池、放大器等。MTS系統(tǒng)的AC與時域測量功能包括I-V、C-V、溫度控制及寬泛的電壓、電流范圍為研究者提供了極大的方便。
MTS多種選項:• I – V,C – V,Mott-Schottky • MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA fA選項 • MBST 2A大電流選項 • 低溫系統(tǒng) • MFRA交流性能測試

介電材料

鐵電材料(常用于電子應用, 如PC內(nèi)存)、壓電材料、陶瓷、聚合物、油品、玻璃以及粘土都屬于介電材料(絕緣體)。MTS系統(tǒng)的高電壓、杰出的電流分辨率及高精度非常適用于測量此類介電材料的電性能。
MTS多種選項:• I – V,阻抗 • MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA     fA選項 • 高溫爐或低溫系統(tǒng) • MFRA交流性能測試

生物材料

利用時域及AC測量技術,MTS系統(tǒng)可用于各種生物材料、醫(yī)用植入材料、血液、病毒或組織細胞以及藥物在體內(nèi)傳輸?shù)臏y量。 雖然不能直接和生物活體相連接,但是廣泛應用于體外測試。
MTS多種選項:• MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA     fA選項 • 低溫系統(tǒng) • MFRA交流性能測試

 

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