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之前，我們對全聚焦方式(TFM)相控陣超聲檢測(PAUT)儀器所提供的聲束覆蓋信息知之不多。對這類信息的了解基本上通過猜測而得。檢測人員不得不假定聲束對整個目標區(qū)域的覆蓋均勻一致。然而，我們深知假定的條件不能保證帶來準確的結果。提前了解聲束在每種傳播模式中對目標區(qū)域覆蓋的情況，以及信號靈敏度表現(xiàn)好和差的位置，可以使檢測人員對檢測的成敗運籌帷幄。檢測人員對每種檢測模式探測到某些特定缺陷類型的能力會更加胸有成竹。而在檢測行業(yè)中，確定性增加實乃一大優(yōu)勢。
 

　　聲學區(qū)域和全聚焦方式（TFM）
 

　　雖然全聚焦方式(TFM)已經(jīng)在醫(yī)療行業(yè)使用了幾十年，近幾年來在無損檢測(NDT)行業(yè)中也開始使用，但是，檢測人員在使用這種方法進行檢測時，還是經(jīng)常要經(jīng)過大量的試錯操作，才會獲得準確的結果。傳播模式的眾多選項(成像路徑或聲學路徑)可能會使操作人員感到困惑，還會使檢測結果無法預判。在使用典型的TFM系統(tǒng)時，用戶理所當然地認為，聲學影響(或能量)區(qū)域會均勻地分布在掃查計劃中的整個目標區(qū)域。實際上，在TFM掃查區(qū)域內(nèi)的各個位置，聲學影響水平會有所不同，因此即使信噪比(SNR)足夠好，也可能無法探測到某些缺陷。有效的聲學影響受到許多因素的影響，其中包括：材料聲速、探頭頻率、缺陷的方向性等等。更重要的是，聲學影響在很大程度上取決于所選擇的檢測模式。
 

采用TFM（全聚焦方式）進行檢測會遇到的挑戰(zhàn)
 

　　創(chuàng)建一個區(qū)域，然后在其中采集數(shù)據(jù)的方式會誤導用戶產(chǎn)生錯誤的期望。盡管掃查區(qū)域內(nèi)的聲束在技術層面上都得到了優(yōu)化，但是在某些情況下，超聲波的物理特性就是不允許聲波傳播得如此之遠。例如，在TTT模式下，我們無法獲得足夠高的聲學靈敏度，以探測到區(qū)域右上角的反射體。然而，操作人員可能會輕松地假定聲束已經(jīng)覆蓋到這個區(qū)域，而且會相信聲束已經(jīng)在此得到聚焦。
 

改進AIM（聲學影響圖）
 

　　聲學影響圖(AIM)是一種建模工具，用于指導用戶為不同的缺陷選擇適當?shù)臋z測模式。這個工具直接在OmniScan X3探傷儀上創(chuàng)建一個模型，以呈現(xiàn)劃定區(qū)域的波幅圖。波幅圖的顏色定義如下：紅色區(qū)域表示超聲響應非常好，超聲響應與大波幅的距離在0dB到?3dB之間。橙色區(qū)域的超聲響應與大波幅的距離在3 dB到?6dB之間。黃色區(qū)域的超聲響應與大波幅的距離在?6dB到?9 dB之間。以此類推。檢測人員可以選擇一個全向反射體(體積型)，如：孔隙，也可以選擇一個較長的線形反射體，如：如裂紋。在缺陷類型方面的調(diào)整，會使AIM模型得到更新，從而表明了使用某個特定模式檢測某個特定缺陷時，對缺陷類型所做的不同選擇會獲得不同的波幅。聲學影響圖(AIM)建模工具：隨著對反射體角度值的調(diào)整，聲學影響圖會隨之產(chǎn)生變化。這個功能可使檢測人員比較每種模式的覆蓋范圍，并確保他們能夠在確定的區(qū)域中獲得可以探測到缺陷的優(yōu)質信號靈敏度。甚至在開始檢測之前，檢測人員對于是否為所要探測到的缺陷類型做出了適當?shù)哪Ｊ竭x擇，也會有十足的把握。