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近紅外（NIR）紅外光譜法是材料生產(chǎn)質(zhì)量檢測(cè)過(guò)程中一重要測(cè)試方法， 尤其是在種類眾多原材料質(zhì)量控制過(guò)程中。 原材料樣品可能為多種物理形態(tài)， 如液體、 凝膠和固體等多種形態(tài)， 故原材料測(cè)試時(shí)， 儀器要能方便適用于測(cè)試不同形態(tài)原材料樣品。

利用近紅外光譜儀快速測(cè)試原材料樣品近紅外光譜圖， 與已知原料近紅外譜圖比對(duì)，確定樣品主要成分或可能成分，測(cè)試速度快，方便快捷，非常適用于產(chǎn)品質(zhì)量控制過(guò)程中。

該應(yīng)用報(bào)告主要介紹在符合21 CFR第11部分的規(guī)定的前提下， 利用PerkinElmer Spectrum Two N ™ FT -NIR近紅外分光光譜儀，建立符合數(shù)據(jù)完整性規(guī)程的測(cè)試模型，從而克服原材料測(cè)試過(guò)程中的多重挑戰(zhàn)。 近紅外（NIR）光譜法是測(cè)試固體原材料樣品的測(cè)試方法， 與其他分析方法相比（ 例如拉曼光譜）， 近紅外測(cè)試更快速、更簡(jiǎn)單， 樣品無(wú)需前處理， 直接通過(guò)玻璃瓶或者培養(yǎng)皿作為反射采樣附件， 對(duì)樣品無(wú)破壞。Spectrum Two N近紅外光譜儀搭配NIR反射附件（NIRM）。

與可替代積分球附件相比，NIRM具有以下顯著的性能優(yōu)勢(shì)：

通過(guò)可微小調(diào)控光學(xué)附件， 確保率采集實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)， 樣品測(cè)試范圍廣， 測(cè)試結(jié)果， 同時(shí)方便數(shù)據(jù)在不同儀器間的傳遞；

• 優(yōu)良光學(xué)器件確保光束的均勻一致性；
• 更低的雜散光，度更高；
• 儀器內(nèi)置穩(wěn)定的標(biāo)準(zhǔn)樣品；
• 雜散光和參比校正， 確保測(cè)試得到的吸收光譜圖全為樣品吸收。

原材料樣品近紅外光譜圖主要有合頻峰和倍頻峰兩部分組成， 不同材料樣品分別具有其*的指紋譜峰，表2為三種原材料樣品的近紅外光譜圖。 利用軟件自帶數(shù)據(jù)處理算法， 通過(guò)與已有參比譜圖比對(duì)來(lái)確定樣品主要成分。

• FrontierNIR+SP10STD近紅外系統(tǒng)

  檢測(cè)儀器在線詢價(jià)