S neox 是高性能非接觸式 3D 光學輪廓顯微鏡系統(tǒng)，專為亞納米、納米和微尺度級測量而設(shè)計，具有的檢查和分析功能。
全新 S neox 在設(shè)計、功能、效率和性能方面均優(yōu)于現(xiàn)有的光學 3D 輪廓分析顯微鏡。除此之外，它最令人印象深刻的特點是它的速度。借助新的智能算法，一切都變得更快。數(shù)據(jù)采集速度為 180 fps。S neox 將標準測量的采集速度較之前提高 5 倍，這使其成為市面上的區(qū)域測量系統(tǒng)。
S neox 設(shè)計在研發(fā)和質(zhì)量控制實驗室所需的靈活性、穩(wěn)定性和耐用性方面進行了改進。我們的優(yōu)化解決方案具有靈活性和易于使用的界面，適用于質(zhì)量控制環(huán)境，并且可以設(shè)置為 24/7 全天候工作。 S neox 測量頭采用的 Sensofar 三合一技術(shù)方法 – 共聚焦、干涉測量、Ai 多焦面疊加（新）- 極大地提高了系統(tǒng)的多功能性，有助于地減少數(shù)據(jù)采集中的不良影響。S neox 是所有實驗室環(huán)境的理想選擇，沒有任何限制。最重要的特點包括：
全新主動照明多焦面疊加是一項光學技術(shù)，旨在測量較大粗糙表面的形狀。通過使用主動照明，即使在光學平滑的表面上也能獲得更可靠的聚焦位置，這一點已經(jīng)獲得改進。
全新薄膜測量技術(shù)，使用戶可以快速、準確、無損地測量光學透明層的厚度，而無需準備樣品。該技術(shù)可在不到 1 秒的時間內(nèi)測量 50 nm 至 1.5μm 厚的透明膜。
添加微分干涉 (DIC) ，用于強調(diào)在正常觀察中本無對比度的非常小的高度特征
高動態(tài)范圍 (HDR)減輕高反射表面（局部斜率和/或不同材料）上的反射點和漏失點。
S neox 配備了四個具有長使用壽命的 LED 光源和一個 6 位電動換鏡旋轉(zhuǎn)盤。測量頭中沒有活動部件，因此可提供長期穩(wěn)定性、準確的測量重復性和非常長的使用壽命。與之前的 S neox 一樣，新的系統(tǒng)同樣可以連接帶有五軸高精度電動旋轉(zhuǎn)模塊的旋轉(zhuǎn)工作臺。
S neox 隨附 SensoSCAN 7，該軟件可通過其清晰、直觀且用戶友好的界面驅(qū)動系統(tǒng)，并可與新的 SensoVIEW 軟件結(jié)合使用，用于進行各種分析任務(wù)。歡迎的表面紋理參數(shù)皆是根據(jù) ISO 25178 和 ISO 4278 計算得出。
SensoPRO 還創(chuàng)建了自動化分析模塊，讓所有質(zhì)量控制程序變得更加容易。若要進行功能更強大、更靈活的數(shù)據(jù)分析，則可選擇基于 Mountains® 技術(shù)的表面分析軟件 SensoMAP。
