MPS50系列為兩線制W波段調(diào)頻連續(xù)波雷達(dá)物位儀表適用于料倉(cāng)內(nèi)固體介質(zhì)的連續(xù)物位測(cè)量，量程100mMPS50系列雷達(dá)物位計(jì)是基于調(diào)頻連續(xù)波技術(shù)的測(cè)量系統(tǒng)

MPS50系列為兩線制W波段調(diào)頻連續(xù)波雷達(dá)物位儀表

適用于料倉(cāng)內(nèi)固體介質(zhì)的連續(xù)物位測(cè)量，量程100m

MPS50系列雷達(dá)物位計(jì)是基于調(diào)頻連續(xù)波技術(shù)的測(cè)量系統(tǒng)。雷達(dá)物位計(jì)通過透鏡天線發(fā)射連續(xù)的微波信號(hào)，該發(fā)射信號(hào)的頻率由鋸齒波進(jìn)行線性調(diào)制。連續(xù)發(fā)射的微波信號(hào)遇到被測(cè)介質(zhì)表面時(shí)，由于介電常數(shù)發(fā)生突變，微波信號(hào)的部分能量被連續(xù)的反射回來，并被透鏡天線系統(tǒng)所接收。

接收信號(hào)的頻率與發(fā)射信號(hào)的頻率總是存在差值的，而該差值與雷達(dá)天線到被測(cè)介質(zhì)表面的距離成正比，越大的頻率差值代表著越遠(yuǎn)的物料距離。由式(1)即可計(jì)算出被測(cè)物質(zhì)到儀表法蘭的距離。

D=1/2 · c · (ΔF/R) (1)

其中D為測(cè)量參考面到被測(cè)介質(zhì)的距離，c為光（電磁波）在真空的的傳播速度，ΔF為接收信號(hào)與發(fā)射信號(hào)的頻率差，R為發(fā)射信號(hào)頻率隨時(shí)間的變化率。

然后根據(jù)用戶設(shè)定的空料位位置，由式(2)即可計(jì)算出物料高度。

L=E-D (2)

其中E為測(cè)量參考面到用戶設(shè)定的空料位位置，D為測(cè)量參考面到被測(cè)介質(zhì)的距離，L為物料高度。