X-RAY 5000測厚儀采用模塊化設(shè)計(jì)，可輕松集成到生產(chǎn)線中。例如，當(dāng)必須測量大尺寸底材（如錫板）上的鍍層時(shí)，X-RAY 5000 堪稱理想解決方案。根據(jù)底材和鍍層材料的不同，客戶可按需求選配X射線源、探測器以及基本濾片。

應(yīng)用：

涂層厚度測量

1、測量太陽能行業(yè)中 CIGS、CIS、CdTe 以及 CdS鍍層的厚度

2、金屬帶材、金屬箔以及塑料箔上厚度僅為幾微米的鍍層

材料分析

1、測量光伏行業(yè)中CIGS、CIS、CdTe 以及 CdS鍍層的成分

2、連續(xù)生產(chǎn)過程中的金屬鍍層

3、濺射鍍和電鍍生產(chǎn)中的過程監(jiān)控

特性：

• 與生產(chǎn)系統(tǒng)連接后，可在運(yùn)行的生產(chǎn)過程中持續(xù)測量
• 適用廣泛：可用于真空或大氣環(huán)境，樣品表面溫度高可達(dá) 400°C
• 特別堅(jiān)固的設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu)，在惡劣條件下也可持續(xù)獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果
• 非常適用于對具有大尺寸表面的產(chǎn)品進(jìn)行鍍層厚度測量與材料分析