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Ux-720鍍層厚度檢測儀

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一.產(chǎn)品簡介1.Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結果業(yè)界。2.采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。3.Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋...

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  • 產(chǎn)品詳情

.產(chǎn)品簡介

 1.Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結果業(yè)界。

2.采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

3.Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。

 4.X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。

 5.Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結果經(jīng)得起科學驗證。

 6.樣品移動設計為樣品腔外部調(diào)節(jié),多點測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。

 7.設計更科學,軟硬件配合,機電聯(lián)動,輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。

 8.軟件操作具有操作人員分級管理權限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

.技術參數(shù)

1.測厚技術:X射線熒光測厚技術

2.測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層

3.測量下限:0.003um

4.測量上限:30-50um(以材料元素判定)

5.測量層數(shù):10

6.測量用時:30-120

7.探測器類型:Si-PIN電制冷   

8.探測器分辨率:145eV

9.高壓范圍:0-50Kv,50W

10.X光管參數(shù):0-50Kv50W,側窗類;

11.光管靶材:Mo靶;

12.濾光片:專用3種自動切換;

13.CCD觀察:260萬像素

14.微移動范圍:XY15mm

15.輸入電壓:AC220V,50/60Hz

16.測試環(huán)境:非真空條件

17.數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式

18準直器:?1mm,?2mm?4mm

19.軟件方法:FlexFP-Mult

20.工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義

21.樣品腔:330×360×100mm

.標準配件

樣品固定支架1

窗口支撐薄膜:100

保險管:3

計算機主機:品牌+雙核

顯示屏:19吋液晶

打印機:噴墨打印機


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