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HAST加速老化試驗箱--產(chǎn)品用途試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)
HAST加速老化試驗箱--產(chǎn)品用途
試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，隨著半導體可靠性的提高，大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。
HAST加速老化試驗箱--結構特點
·全彩7 ’TFT中/英文觸控控制系統(tǒng)
·0.1℃/0.1%RH/0.1kg/cm2 精確解析能力
·520 HOURS 59MIN/STEP 每段可控時間
·50 program共12500step程序記憶容量
·USB2.0儲存接口與曲線記錄及下載
·全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)
·預約啟動設定，運轉(zhuǎn)預計結束時間表示，通電時間積算，運行時間積算
·牌結束規(guī)劃（程序連接,轉(zhuǎn)到定值，停機等）
·可通過因特網(wǎng)遠距離監(jiān)控機器運行情況，及遠程操控機器）
控制精度 | 溫度:±0.3%F.S+1digit，濕度：±1.0%RH+1digit，壓力：±0.2%F.S+1digit |
分辨率 | 溫度：0.1，濕度：0.1，壓力:0.1 |
測定周期 | 0.6秒（溫度、濕度各0.3秒） |
程序組容量 | 50PATTERN（組）/12500STEP（段） |
STEP（段）時間 | 0-520H59M可調(diào) |
循環(huán)次數(shù) | 每組程序可設1-32000次（小循環(huán)可設1-32000次） |
TROUBLEIN | 全機報警動作相關處理咨詢 |
歷史數(shù)據(jù)表示 | PV實際值/SV設定值按采樣周期記錄保存 |
1.曲線，歷史數(shù)據(jù)可由USB按日期選擇拷貝 | |
2.按60秒采樣，可記錄保存60天數(shù)據(jù)及曲線 | |
通信機能 | 附標準RS-232接口或因特網(wǎng)聯(lián)機界面（需訂貨時說明） |
試驗名稱登錄 | 可任意登錄250組中英文試驗名稱 |
LCD背光燈及屏幕鎖 | 背光燈保護0-99分可設，憑權限密碼進入 |
內(nèi)存 | 數(shù)據(jù)記憶保存EEPROM （可保存15年以上） |
附加功能 | 預約起動設定，通電時間積算，運轉(zhuǎn)時間積算，結束規(guī)劃等 |
HAST加速老化試驗箱--符合標準
IEC 60068-2-66-1994環(huán)境試驗第2-66部分:試驗方法試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD 22-A102-B加速抗潮性.非偏離的高壓滅菌器
EIAJED4701
EIA/JESD22
GB/T 2423.40-2013環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
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