試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間

試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間。
評估固態(tài)組件之密封性，加速產(chǎn)品老化，縮短測試周期。

試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間。
評估固態(tài)組件之密封性，加速產(chǎn)品老化，縮短測試周期。

高加速老化試驗機
設備內(nèi)尺寸: 255*255*318mm
壓力范圍: 0.02~0.392MPa
溫度范圍：(105.0~162.2)℃
濕度范圍：(75~100)%RH

參考標準：
IEC 60068-2-66:1994
Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat，steady state(unsaturated pressurized vapour)
GB/T2423.40-1997
電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱