現(xiàn)場/遠程-飛行時間二次離子質(zhì)譜
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 北京依維特技術服務有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/8/9 14:38:50
- 訪問次數(shù) 95
參考價 | 面議 |
設備介紹飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(TimeofFlightSecondaryIonMassSpectrometry,TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術,通過用一次離子激發(fā)樣品表面,打出極其微量的二次離子,根據(jù)二次離子因不同的質(zhì)量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質(zhì)量,具有分辨率的測量技術
飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術,通過用一次離子激發(fā)樣品表面,打出極其微量的二次離子,根據(jù)二次離子因不同的質(zhì)量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質(zhì)量,具有分辨率的測量技術。
飛行時間二次離子質(zhì)譜IONTOF 5
應用范圍:當產(chǎn)品表面存在微小的異物,而常規(guī)的成分測試方法無法準確對異物進行定性定量分析,可選擇TOF-SIMS.
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息: