當前位置:儀器網 > 產品中心 > 行業(yè)專用儀器>其它行業(yè)專用儀器>其它> 光的偏振與晶體光學基礎綜合實驗
返回產品中心>
光的偏振與晶體光學基礎綜合實驗
光的偏振與晶體光學基礎是物理光學中重要的知識點,本實驗以光的橫波性為主要研究對象,研究光在晶體中的傳播特性和偏振元件對光的作用。實驗內容全面,知識架構由淺入深,主要包含了偏振光的產生、檢驗、不同偏振光相互轉換、瓊斯矩陣以及不同偏振光的干涉及其應用。通過實驗現象的搭建與測試將原本教學中晦澀抽象的原理直觀展示,與此同時,針對偏振知識點及行業(yè)應用進行了深化與提高,原先實驗教學中的空白,是詮釋物理、光電相關專業(yè)課程教學大綱知識點的實驗平臺.
實驗內容:
1、線偏光的產生與馬呂斯定律的驗證實驗;
2、波片的快慢軸標定實驗;
3、偏振光的產生與檢驗實驗;
4、不同偏振光相互轉換實驗;
5、瓊斯矩陣的表示與計算實驗;
6、晶體雙折射與角度測量實驗;
7、偏振極坐標的實時測試實驗; (B 型)
8、線偏振光與線偏振光的干涉實驗; (B 型)
9、同旋圓偏振光的干涉實驗; (B 型)
10、不同旋圓偏振光的干涉實驗; (B 型)
11、偏振光干涉測量波片延遲量實驗。 (B 型)
選配設備參數
計算機(基本配置)
主要設備參數
1.光源組件:
光纖耦合激光器:650nm,P>1.5mW,單模光纖,芯徑4μm,TEM 00 ,3mmPVC光纖保護套,光纖接頭FC/PC,光纖長度50cm。
2.光學組件:
變換透鏡:Φ40mm,f=150mm,光潔度III 級;分光棱鏡:25.4mm*25.4mm*25.4mm,AR@400~700nm;
衰減片:透過率T=0.2~10%;窄帶濾光片:半波寬50nm;加強鋁反射鏡:Φ40mm;
3.可編程功率計:
可編程功率計:顯示屏顯示內容為測量波長、自動/手動量程模式、衰減窗口狀態(tài)、當前功率測量檔位;測量精度0.1uW,分辨率0.1uW,支持六擋量程;測量波長范圍200nm-1100nm,功率測量范圍0-40mW(裸探測器)/0-2W(衰減窗口);提供實時功率顯示,長期功率檢測,并顯示測量時長、測量時間內的功率變化曲線,提供值、最小值顯示,可導出excel數據;USB2.0操作通訊接口。
4.實驗軟件功能模塊:
軟件包含六大模塊,分別為線偏光的產生與馬呂斯定律驗證模塊;偏振光的產生與檢驗實驗模塊;不同偏振光相互轉換實驗模塊;偏振極坐標的實時測試實驗模塊;偏振光干涉實驗模塊;以及偏振光干涉測量波片延遲量實驗模塊。
5.電控轉臺:(B型)
5-1轉臺:行程:360°,Φ60mm的臺面,中心孔為Φ34mm,傳動方式:蝸輪蝸桿(減速比1/180),速度:15°/秒,單向定位精度:0.1°,承重:3Kg。
5-2電控單元:兩相步進電機控制器,輸出頻率5KHz,AC220V輸入,運動模式:連續(xù)模式與單步模式可切換,驅動電流3A,細分數64,通訊方式USB轉RS232,顯示方式:2行液晶,工作環(huán)境溫度-10~+45℃,環(huán)境相對濕度45~85%RH,帶上位機軟件以及SDK。
6、COMS相機:(B型)
CMOS相機:分辨率1280×1024,像素大小5.2μm×5.2μm,USB2.0接口。
7、機械組件:
精密光學導軌:L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維移動滑塊、調節(jié)支座、支桿;
高精度調節(jié)鏡架;CCD可變衰減光闌:C接口;精密調整架:調節(jié)半導體激光器準直
透鏡;二維可調棱鏡支架;激光管夾持器,二維俯仰可調,夾持Φ50mm 。
8、實驗手冊及保修。
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
*您想獲取產品的資料:
個人信息: