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產(chǎn)品簡介：蔡司金相顯微鏡Axio Imager 2，用于高級材料研究的顯微鏡系統(tǒng)，將易操作性引入顯微工作流程。確保在質(zhì)量檢驗和流程控制中提供精準且可重復的結(jié)果。擁有出色的光學鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預設條件和可重復的結(jié)果。
用于高級材料研究的顯微鏡系統(tǒng)
將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 確保在質(zhì)量檢驗和流程控制中提供精準且可重復的結(jié)果。
Axio Imager 2 擁有出色的光學鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預設條件和可重復的結(jié)果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式模塊。
從四種不同的主機架中選擇您需要的系統(tǒng)，并借助專業(yè)解決方案擴展應用：Particle Analyzer、關聯(lián)顯微系統(tǒng)或 LSM 700。
蔡司金相顯微鏡Axio Imager 2結(jié)構(gòu)圖
具有超高對比度和分辨率的出色光學系統(tǒng)，模塊化主機設計，利用一系列電動和編碼組件增強靈活度，穩(wěn)定的主機和無振動的工作環(huán)境能夠確保觀測結(jié)果的可重復性，使用激光共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對 Axio Imager 2 進行升級，在關聯(lián)顯微系統(tǒng)的工作和顆粒度分析中使用 Axio Imager 2，在質(zhì)量檢驗和流程控制中，自動化功能可確保重復檢測結(jié)果的精準
研究和檢測不同材料。分析金屬結(jié)構(gòu)、復合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。多種觀察方式可供選擇，以獲得更多豐富的信息。使用反射光，在明場、暗場、微分干涉（DIC）、圓微分干涉（C-DIC）、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光，在明場、暗場、微分干涉（DIC）、偏光或圓偏光下檢測樣品。觀察方式管理器能確保 Axio Imager 2 的照明設置可復制。
出眾的表面應用，Axio Imager.Z2m 或 Axio Imager.M2m 可以在觸摸屏上顯示關鍵操作功能，使用指尖控制所有電動組件。其他控制按鈕依照人體工程學方式排列在調(diào)焦驅(qū)動裝置周邊，可通過觸覺輕易的區(qū)分各控制按鈕。Axio Imager.D2m 有 5 個預編程按鈕，而 Axio Imager.Z2m 則有 10 個用戶自定義按鈕。
技術(shù)參數(shù)：
| 光學系統(tǒng) | IC2S色差反差雙重校正光學系統(tǒng) |
| 照明裝置 | 12V100W鹵素燈，100WHBO汞燈，microLED |
| 物鏡轉(zhuǎn)盤 | 6孔物鏡轉(zhuǎn)換器 |
| 載物臺 | 適用于反射光與透射光的手動載物臺，行程分別為200mmx200mm或300mmx300mm |
| 觀察筒 | 雙目鏡筒、三目鏡筒、人機工程學鏡筒和人機工程學三目鏡筒 |
| 物鏡 | 1倍至150倍，反射光：EC EPIPLAN、EC Epiplan-NEOFLUAR 和 EC Epiplan-APOCHROMAT；透射光：N-ACHROPLAN、EC Plan-NEOFLUAR、Plan-APOCHROMAT、C-APOCHROMAT 和 FLUAR；特殊用途：LD EPIPLAN 和 LD EC Epiplan-NEOFLUAR |
| 目鏡 | 10倍視場數(shù)23或25 |
| 選配裝置 | 暗場、微分干涉、簡易偏光、熒光、相差、CCD成像 |
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