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日立 TM系列專用能譜儀(EDS)Quantax75

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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產(chǎn)品介紹 操作簡單且直觀

詳細信息 在線詢價

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產(chǎn)品介紹:


操作簡單且直觀


*:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實例


*:探測器內(nèi)置型


(制造商: 德國Bruker nano GmbH)


產(chǎn)品特點:


通過簡單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布

移動到位置,可實時確認(rèn)其譜圖

雙屏顯示

僅需選擇圖像和模板,即可在生成Word?、Excel?、面分布信息的同時,實時顯示點分析、線分析結(jié)果等多種分析。



超高的性能(hyper map)成就了一次測試即可獲取點分析、線分析、面分布結(jié)果

點分析

可根據(jù)點位置移動實時追蹤譜圖,輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。



實時在線譜峰剝離面分布

分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素,并顯示正確結(jié)果。



產(chǎn)品規(guī)格:


項目內(nèi)容
探測器類型硅漂移探測器
探測器面積30 mm2
能量分辨率148 eV (Cu-Kα)
(Mn-Kα?xí)r不高于129 eV)
可檢測元素B5~Cf98



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