配置新型光電二極管陣列檢測器SPD-M30A的Nexera X2的系統(tǒng)。配備新解析手法「i-PDeA※（申請中）」，為未充分分離峰或隱藏峰的解析提供新的途徑。具備的靈敏度和分離性能，進一步擴展了UHPLC分析的領域。

※ inligent Peak Deconvolution Analysis

inligent Peak Deconvolution Analysis (i-PDeA，申請中) *分離未分離峰

即使是未分離的峰，如果應用i-PDeA功能，則可利用譜圖的差異提取出單一峰，免去了未分離峰波形處理的煩惱。以傳統(tǒng)方法難以檢測的隱藏在目的成分峰中的雜質峰也可輕松檢測，僅需數(shù)步便可完成檢測。

基于i-PDeA的波形處理

目的峰洗脫在拖尾峰上了...

高靈敏度檢測池（選配）

● 追加實現(xiàn)更高靈敏度的選配檢測池

SR-Cell除標準檢測池之外，添加了高靈敏度檢測池。光程長85 mm，長于標準檢測池，全面檢測微小色譜峰。

烷基酮分析時標準檢測池與高靈敏度檢測池的S/N比較

● 醫(yī)藥品雜質分析例

高靈敏度檢測池可以充分應對醫(yī)藥品中以標準檢測池難以檢測的雜質。使用Nexera SR系統(tǒng)，分別以標準檢測池與高靈敏度檢測池（選配）分析了*和其分解生成物。使用高靈敏度檢測池可以檢測痕量雜質。Nexera SR系統(tǒng)與高靈敏度檢測池組合成為痕量成分分析的利器。