深圳市恒勝達(dá)科技有限公司提供VEO+多功能相控陣探傷儀用于高精密金屬材料內(nèi)部缺陷探傷，用于航天航空，飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)，機(jī)翼超高精密材料探傷檢測(cè)。

       VEO+ 是一款便攜式超聲波相控陣探傷儀,.其特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單、高性能、功能。技術(shù)人員可以能輕易以手指觸摸操作。

       儀器采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動(dòng)流程，有完整的說(shuō)明菜單和向?qū)Р僮?，?huì)讓用戶(hù)通過(guò)掃描同時(shí)**化。

      聲速、延遲、TCG、 DAC、TOFD的設(shè)置及編碼器校準(zhǔn)的快速高效向?qū)?，均作為?biāo)準(zhǔn)提供。校準(zhǔn)狀態(tài)通過(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單的轉(zhuǎn)換系統(tǒng)清晰的顯示在屏幕上，veo是否已校準(zhǔn)用于檢測(cè)任務(wù)，操作者可一目了然。

       VEO+ 能滿(mǎn)足大部份無(wú)損檢測(cè)(NDT)需要, 典型應(yīng)用包括焊縫檢測(cè)、腐蝕檢測(cè)、宇航領(lǐng)域和復(fù)合檢測(cè)等。

●多種配置可選：32:128PR, 16:128PR, ?16:64PR, 32:64PR

●能實(shí)示顯示S, L, A, B, C, TOFD 掃描

●能同步超聲波及相控陣檢測(cè)

●實(shí)時(shí)成像技術(shù)和3D掃描融為一機(jī)

●具有集成數(shù)據(jù)記錄功能、可自動(dòng)生成?PDF報(bào)告

●外殼堅(jiān)固，符合IP66標(biāo)準(zhǔn)，可在?惡劣的環(huán)境條件下檢測(cè)

●具有中文操作界面

●內(nèi)建128GB SSD存儲(chǔ)盤(pán)

●支持WiFi無(wú)線連接

VEO+是一款便攜式超聲波相控陣探傷儀,.其特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單、高性能、功能。技術(shù)人員可以能輕易以手指觸摸操作。

儀器采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動(dòng)流程，有完整的說(shuō)明菜單和向?qū)Р僮鳎瑫?huì)讓用戶(hù)通過(guò)掃描同時(shí)**化。

聲速、延遲、TCG、 DAC、TOFD的設(shè)置及編碼器校準(zhǔn)的快速高效向?qū)В鳛闃?biāo)準(zhǔn)提供。校準(zhǔn)狀態(tài)通過(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單的轉(zhuǎn)換系統(tǒng)清晰的顯示在屏幕上，veo是否已校準(zhǔn)用于檢測(cè)任務(wù)，操作者可一目了然。

VEO+能滿(mǎn)足大部份無(wú)損檢測(cè)(NDT)需要, 典型應(yīng)用包括焊縫檢測(cè)、腐蝕檢測(cè)、宇航領(lǐng)域和復(fù)合檢測(cè)等。

主要特點(diǎn):

● 16:64 相控陣 (16 脈沖發(fā)生/接收器, 上升至64元素)

● 可升級(jí)至16:128 (16 脈沖發(fā)生/接收器, 上升至128元素)

●   快速編碼器掃描,能實(shí)示顯示S, L, A, B, C, TOFD 掃描

●   能同步超聲波及相控陣檢測(cè)

●   內(nèi)建6GB 存儲(chǔ)盤(pán), 能通過(guò)USB 鑰匙增加容量

●   熱插入式充電池

3D掃描圖

VEO+掃描支持多探頭和多重掃描，可從許多來(lái)源快速有效的設(shè)置檢測(cè)計(jì)劃?？蓮囊欢ǚ秶膸缀螌W(xué)焊縫中選擇，并可顯示出你已選擇用于檢測(cè)工件的探頭。多重跳轉(zhuǎn)路徑顯示在3D掃描圖上，使用者可確保覆蓋焊縫檢測(cè)。有簡(jiǎn)單的參考點(diǎn)指示，可以快速確定探頭在工件上所處的位置。

TOFD

VEO+能包括用于TOFD檢測(cè)，采用的模擬濾波器及加上低噪聲的放大器，高速數(shù)據(jù)采集和高清晰度顯示，高品質(zhì)的TOFD掃描可以與相控陣同時(shí)查看。在焊縫檢測(cè)時(shí)，相控陣和TOFD檢測(cè)可以一起評(píng)價(jià)以提高可信度。

多重掃描

VEO+可以快速設(shè)置為顯示一個(gè)大范圍的多重掃描視圖。這允許使用者選擇一個(gè)重要的檢測(cè)視圖，并獲得**的顯示效果。扇形掃描、頂部、邊部和端視圖都可以結(jié)合多重A掃描視圖和TOFD。指針和標(biāo)尺可用于在視圖中識(shí)別軌跡，實(shí)時(shí)測(cè)量工具可顯示尺寸和注釋。

A掃描

VEO+支持傳統(tǒng)的用單晶探頭的超聲波檢測(cè)。高分辨率的LCD和快速的圖形重現(xiàn)，確保高的精度水平和快速的交互式波形顯示。由于高分辨率的LCD顯示，測(cè)量清晰易讀，寬屏幕模式提供了巨大的掃描視窗區(qū)域。

UT Studio

UT Studio是基于計(jì)算機(jī)的相控陣分析和生成報(bào)告的分析軟件。記錄的veo+數(shù)據(jù)文件可以很容易的通過(guò)U盤(pán)傳輸，并用于生成新的視窗和影像。使用者可以簡(jiǎn)單的將veo+數(shù)據(jù)文件拖拽到顯示模板中以創(chuàng)建多個(gè)視窗。

軟件內(nèi)包括了強(qiáng)大的測(cè)量指針和抽取器用于識(shí)別軌跡、尺寸和標(biāo)注缺陷。容易生成報(bào)告，并以PDF格式輸出。