當前位置：儀器網 > 產品中心 > 行業(yè)專用儀器>其它行業(yè)專用儀器>其它> 美能PID測試系統(tǒng)ME-PV-PID
返回產品中心>| 參考價 | 面議 |
長期泄漏電流會造成電池片載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學腐蝕等問題，從而導致電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等影響組件長期發(fā)電量及壽命的現(xiàn)象。
什么是潛在誘導退化（PID）測試？
PID測試是對制造的模塊進行的質量保證測試，以預測它們在不同條件下長時間的性能。對于太陽能組件的PID測試，將組件置于85°C的溫度下，濕度約為85%，并在1000v負載下持續(xù)96小時。PID測試模擬組件暴露在的次電壓和溫度條件下的功率損耗。
如何進行潛在誘導退化（PID）試驗？
為了進行測試，在兩個金屬電極之間放置了一組像模塊一樣的太陽能電池、聚合物箔和玻璃層堆棧。在加熱底部（接地）電極的同時，在模塊的上部電極上施加高正電壓（電壓相當于PID）。
| 項目 | 內容 |
|---|---|
| 電源 | 電壓范圍：-2000～2000V 電壓精度：0.5%FS 電壓分辨率：1V 電流能力：1mA |
| 電流傳感器 | 測試范圍：-1～1mA 測試精度：0.5%FS 分辨率：0.001mA |
| 數(shù)據采集卡 | 支持RS485通訊，支持0-5V、0-10V、4-20mA信號輸入 14位分辨率 20路模擬量輸入 T/C軟件組態(tài)，低電壓電流輸入 隔離電壓：3000 Vdc 支持Modbus/RTU控制 DC24V供電 |
| 工控機 | 電源：300W 內存：4G DDR 硬盤：1T 顯示器：DELL-IN1940MW |
| 測試線 | 材質：硅膠 耐壓等級：25KV 芯徑：0.5mm2，多股銅絲 工作溫度：-60-250℃ 外徑：5.8mm 長度：標配6m/套 |
| 溫濕度傳感器 | 溫度范圍：-40-120℃ 精度：±1℃ 濕度范圍：0-99%RH 精度：±3%RH |
|
|
|
|
|
|
*您想獲取產品的資料：
個人信息：
