X射線鍍層厚度測(cè)試儀又稱金屬涂鍍層厚度測(cè)試儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長(zhǎng)為0.000001 m （1μm）左右,X射線比其短為0.000000000001 m至0.00000001 m (0.01- 100 ?)。

X射線鍍層厚度測(cè)試儀集多年X熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。

X射線鍍層厚度測(cè)試儀行業(yè)應(yīng)用能量色散X熒光光譜儀，簡(jiǎn)稱XRF，是一種物理的元素分析方法，具有快速、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低。

應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛(wèi)浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車制造
貴金屬鍍飾......

設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
全新的下照式設(shè)計(jì)，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須，極大減少您擺放樣品的時(shí)間。
全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴(kuò)散，實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合高性能距離補(bǔ)正算法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品（如凹凸面，拱形，螺紋，曲面等）的異型測(cè)試面的精準(zhǔn)測(cè)試。

硬件配置
采用高分辨率的SDD探測(cè)器，分辨率高達(dá)140EV進(jìn)口的大功率高壓，讓Ag,Sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定。
配備微聚焦的X光管，猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓，讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇：0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款。

軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控，讓您的使用更加放心。