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HJBS916 介質(zhì)損耗測試裝置

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值)。介質(zhì)損耗測試裝置采用了數(shù)顯微測量裝置,因而讀數(shù)方便,數(shù)據(jù)灣。測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)

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產(chǎn)品簡介:
介質(zhì)損耗測試裝置與本公司灣的各款高頻Q表配套可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(損耗角正切值)。介質(zhì)損耗測試裝置采用了數(shù)顯微測量裝置,因而讀數(shù)方便,數(shù)據(jù)灣。測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。637811356859032281195.jpg
技術(shù)參數(shù):
平板電容器: 極片尺寸Φ50mm/Φ38mm 可選, 極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
測微桿分辨率:0.001mm


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