MPI TS2000是世界范圍內(nèi)成熟的探針系統(tǒng)的自然演變，其設(shè)計(jì)滿足*半導(dǎo)體測試市場的要求。該系統(tǒng)與所有MPI系統(tǒng)附件*兼容，主要用于解決故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，IC工程，晶圓級可靠性以及MEMS，高功率，RF和mmW器件測試的特殊要求。

TS2000可用于環(huán)境溫度和/或僅熱溫度操作模式，速度快達(dá)10 Dies /秒（取決于*終配置），這使其成為離散RF設(shè)備上預(yù)生產(chǎn)電氣測試的理想選擇，例如。

適用于多種量產(chǎn)型晶圓量測應(yīng)用
? 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV
? 射頻量測 - 至高 67 GHz & 4 埠
? 高功率量產(chǎn)測試 - 至高 10 kV / 600 A
? 集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證 - 室溫至 300 °C

量產(chǎn)可靠性
? 專為 24/7 穩(wěn)定可靠的量產(chǎn)測試而設(shè)計(jì)
? 內(nèi)建被動式防震桌
? 可另選配避震基座
? 適用于室溫至 300 °C 量測

工效學(xué)設(shè)計(jì)及彈性選配
? 簡易便利的前門單晶圓上片設(shè)計(jì)
? 大面積工作臺設(shè)計(jì)，可乘載至多 12x DC 或 4x
DC + 4x RF 微定位器、或 4.5” 標(biāo)準(zhǔn)探針卡夾具
? 另有多種晶圓載物臺、4.5“ 探針卡夾具可做選
擇，亦有諸多配件如 DC/RF 微定位器、光學(xué)顯
微鏡等可搭載，以*支援您的應(yīng)用需求