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光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng) MirrorCLEM

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MirrorCLEM是一個可簡便觀察光學顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統(tǒng)。*1:CLEM (Correlative light and electron microscopy):光學顯微鏡和電子顯微鏡的聯(lián)用觀察顯微鏡法

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光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng) MirrorCLEM

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光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng) MirrorCLEM

MirrorCLEM是一個可簡便觀察光學顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統(tǒng)。

*1:
CLEM (Correlative light and electron microscopy):光學顯微鏡和電子顯微鏡的聯(lián)用觀察顯微鏡法

  • 特點

  • 動畫

特點

MirrorCLEM是搭配FE-SEM,迅速并準確支援CLEM解析的系統(tǒng)。
使用此系統(tǒng),在光學顯微鏡下從低倍率到高倍率清晰觀察樹脂切片目標結(jié)構(gòu)后,讓觀察位置與FE-SEM樣品臺坐標信息同步,通過控制馬達臺在FE-SEM上可觀察同一位置。
此外,還可實時顯示光學顯微鏡和FE-SEM的疊加圖像。

系統(tǒng)配置

  • 超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列

動畫

關(guān)聯(lián)產(chǎn)品分類

  • 聚焦離子束系統(tǒng) (FIB/FIB-SEM)
  • TEM/SEM樣品前處理裝置


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