AuSome™ 金顆粒校準(zhǔn)標(biāo)樣（for SEM, FIB and FESEM）

超高分辨率電鏡校準(zhǔn)用標(biāo)樣，這些已知直徑的金顆粒均勻被覆在硅片上，硅片大小5x5mm，厚0.5mm。納米呈像時作為納米尺度，校準(zhǔn)因為聚焦、散光、工作距離等等的微調(diào)帶來的圖像的偏差。AuSome™ 金顆粒校準(zhǔn)標(biāo)樣上的金顆粒大小均勻、已知直徑，主要供SEM, FIB 和 FESEM校準(zhǔn)使用，目前提供三種產(chǎn)品：

1.  硅片上同時被覆兩種粒度：117,3 nm和27.3nm

2.  硅片上被覆一種粒度：27.3nm

3.  硅片上被覆一種粒度：38nm

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