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SYNAPT XS高分辨率質譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

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靈活性,可提供更大的選擇自由度,高分辨率。應用于制藥、生物、化工、食品、環(huán)境、緝毒等領域。

詳細信息 在線詢價

產(chǎn)品概述

§ SYNAPT XS質譜儀具有靈活性,可提供更大的選擇自由度。

§ 憑借沃特世高級質譜“SELECT SERIES”傳承下來的技術基石,內置*的創(chuàng)新技術,確保使用該平臺的科學家處于質譜分析的前沿,同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。

§ 重新設計的分段四極桿傳輸光學元件,提升棘手化合物的分析靈敏度,同時進一步提高分析穩(wěn)定性。

§ 針對復雜的樣品,提供兼容UPLC的質量分辨率、耐受各種基質的動態(tài)范圍和定量分析結果,同時提供的性能指標。


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優(yōu)勢特點

§ 創(chuàng)新技術作為基石,提供異的分析性能

§ SONAR和HDMSE提供一套*的工具包,用于解析復雜混合物。

完整的分析策略需要結合適當?shù)幕パa技術才能得到更全面的數(shù)據(jù)信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數(shù)據(jù)依賴型采集(DIA)操作模式,分析人員能夠利用互補機制,以的方式解析復雜混合物。

§ 離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性

§ 傳統(tǒng)質譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實驗中,使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數(shù),對分子進行分離。

§ CCS測量可提高化合物鑒定的準確性

離子CCS的測量結果有助于確定離子名稱或研究其結構。運用離子淌度技術,顯著提高了科學家分析復雜混合物和復雜分子的范圍和可信度。

§ CID與ETD碎裂功能

TriWave的雙碰撞室結構可進行碰撞誘導解離(CID)和/或電子轉移解離(ETD)碎裂,且分辨率高、質量測定準確,能夠拓展MS/MS檢測能力。

§ TAP碎裂



配置

離子源

ESI、ESCi®、APCI、APPI、APGC、ASAP和 ionKey/ MS™

傳輸模式

UPLC/Tof MRM

數(shù)據(jù)采集

UPLC/MSE

碰撞室

XS碰撞室

數(shù)據(jù)分析

UPLC/FastDDA




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