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SGW X-4 顯微熔點(diǎn)儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

產(chǎn)品簡介測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。 主要特點(diǎn)

應(yīng)用范圍
測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
產(chǎn)品簡介

性能指標(biāo)

熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃

測量重復(fù)性:±0.1℃(在<200℃時(shí))
±0.2℃(在200~300℃時(shí))

光學(xué)放大倍數(shù):目鏡10X;物境4X


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