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條件：使用測試設(shè)備
DC I-V，C-V和脈沖在一個(gè)測試環(huán)境中
直觀的點(diǎn)擊式Windows®環(huán)境
*的遠(yuǎn)程前置放大器將SMU的分辨率擴(kuò)展到0.1fA
C-V儀器使C-V測量與DC I-V一樣容易
脈沖和脈沖I-V功能，用于高級(jí)半導(dǎo)體測試
示波卡提供了集成的示波器和脈沖測量功能
自給自足的PC提供了快速的測試設(shè)置，強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析，圖形和打印以及測試結(jié)果的板載大容量存儲(chǔ)
*的瀏覽器式的Project Navigator按設(shè)備類型組織測試，允許訪問多個(gè)測試，并提供測試序列和循環(huán)控制
針對(duì)點(diǎn)擊可靠性測試的內(nèi)置壓力/測量，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析，其中包括五個(gè)符合JEDEC標(biāo)準(zhǔn)的樣品測試
對(duì)各種LCR表，吉時(shí)利開關(guān)矩陣配置以及吉時(shí)利3400和Keysight 81110脈沖發(fā)生器的集成支持
包括的分析探測器的軟件驅(qū)動(dòng)程序