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表征固液介面穩(wěn)定性的新方法

閱讀:712      發(fā)布時間:2016-8-28
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方案優(yōu)勢:它還可以測量固體表面或薄膜的zeta 電位。 各種濃度的納米顆粒和分子可以通過結(jié)合精密的光學(xué)系統(tǒng)、高靈敏度和快速響應(yīng)的光檢測器和透明電極技術(shù)來進行表征。圖4 顯示出使用透明電極技術(shù)通過Delta™ Nano 儀器來測量一個262 納米聚苯乙烯膠乳樣品的zeta 電位。對于此樣品,當濃度高于0.01%時,很強的多次散射和混濁便開始出現(xiàn)。入射光不能在濃度為0.1%的情況下透射5 毫米光程長度的樣品槽。因此,一旦懸浮液濃度高于0.01%,則不能應(yīng)用傳統(tǒng)的ELS。 然而,使用透明電極技術(shù)可以獲得zui大1%的各種濃度的一致而正確的zeta 電位值。對于更小的顆粒,使用此技術(shù)可以測量甚至更高濃度懸浮液的 zeta 電位。

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