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技術(shù)文章
溫度變化對(duì)紅外氣體分析儀的干擾
點(diǎn)擊次數(shù)：425 發(fā)布時(shí)間：2014-12-3
紅外線氣體分析儀檢測(cè)過程需要在恒定的溫度下進(jìn)行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅 外光源的穩(wěn)定，影響紅外輻射的強(qiáng)度，影響測(cè)量氣室連續(xù)流動(dòng)的氣樣密度，還將直接影響檢 測(cè)器的正常工作。
如果溫度大大超過正常狀態(tài)，檢測(cè)器的輸出阻抗下降，導(dǎo)致儀器不能正常 工作，甚至損壞檢測(cè)器
。紅外分析儀內(nèi)部一般有溫控裝置及超溫保護(hù)電路，即使如此，有的儀器示值特別是微量分析儀器，亦可觀察出環(huán)境溫度變化對(duì)檢測(cè)的影響，在夏季環(huán)境溫度較 高時(shí)尤為明顯。在這種情況下，需改變環(huán)境溫度，設(shè)置空調(diào)是一種解決辦法。