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技術(shù)文章
薄膜電導TOC檢測技術(shù)
點擊次數(shù)：1741 發(fā)布時間：2014-11-30
Sievers 薄膜電導率檢測技術(shù)用于檢測總有機碳（TOC）含量，并被證明為十分可靠的檢測方法。不同于非分散紅外檢測（NDIR—non-dispersive infrared）技術(shù)，電導率檢測法數(shù)值相對穩(wěn)定，也不會隨著時間的變化有明顯的漂移。因此使用薄膜電導率檢測技術(shù)，設(shè)備無需經(jīng)常校準，所得到的檢測結(jié)果也十分穩(wěn)定。
Sievers薄膜電導率檢測技術(shù)使用了選擇性氣體滲透薄膜，只有氧化產(chǎn)生的CO2能通過這層薄膜進入檢測艙。從而防止酸、堿和含鹵素等雜原子化合物的干擾，因此相比直接電導率法，Sievers薄膜電導率檢測法減少了檢測中的“假正“現(xiàn)象，提供了無比優(yōu)異的選擇性、靈敏度、穩(wěn)定性、度和準確度。